ABD Enerji Bakanlığı (DOE) kısa süre önce LED sürücülerine ilişkin uzun vadeli hızlandırılmış ömür testlerine dayanan üçüncü güvenilirlik raporunu yayınladı. ABD Enerji Bakanlığı Katı Hal Aydınlatma (SSL) araştırmacıları, en son sonuçların Hızlandırılmış Basınç Testi (AST) yönteminin çeşitli zorlu koşullar altında mükemmel performansını doğruladığına inanıyor. Ek olarak, test sonuçları ve ölçülen hata faktörleri, sürücü geliştiricilerine güvenilirliği daha da artırmak için ilgili stratejiler hakkında bilgi verebilir.

Bilindiği gibi LED sürücüleriLED bileşenleri kendileri, optimum ışık kalitesi için çok önemlidir. Uygun bir sürücü tasarımı, titreşimi ortadan kaldırabilir ve eşit bir aydınlatma sağlayabilir. Ve sürücü aynı zamanda en olası bileşendir.LED ışıklarveya aydınlatma armatürlerinin arızalanması. Sürücülerin önemini fark eden DOE, 2017 yılında uzun vadeli bir sürücü test projesi başlattı. Bu proje, tavan olukları gibi cihazların sabitlenmesinde kullanılabilecek tek kanallı ve çok kanallı sürücüleri içeriyor.

ABD Enerji Bakanlığı daha önce test süreci ve ilerlemesine ilişkin iki rapor yayınlamıştı ve şimdi bu, AST koşulları altında 6000 ila 7500 saat boyunca çalışan ürün test sonuçlarını kapsayan üçüncü test veri raporudur.

Aslında sektörün uzun yıllar normal çalışma ortamlarında sürücüleri test etmek için çok fazla zamanı yok. Aksine, ABD Enerji Bakanlığı ve yüklenicisi RTI International, sürücüyü 7575 olarak adlandırdıkları ortamda test etmiştir; hem iç mekan nemi hem de sıcaklığı sürekli olarak 75 °C'de tutulmaktadır. Bu test, sürücü testinin bağımsız olarak iki aşamasını içerir. kanal. Tek kademeli tasarımın maliyeti daha düşüktür, ancak iki kademeli tasarıma özgü olan, önce AC'yi DC'ye dönüştüren ve ardından akımı düzenleyen ayrı bir devreye sahip değildir.

ABD Enerji Bakanlığı, 11 farklı sürücü üzerinde yapılan testlerde tüm sürücülerin 7575 ortamında 1000 saat boyunca çalıştırıldığını bildirdi. Sürücü bir çevre odasına yerleştirildiğinde, sürücüye bağlı LED yükü dış ortam koşulları altında bulunur, dolayısıyla AST ortamı yalnızca sürücüyü etkiler. DOE, AST koşulları altındaki çalışma süresini normal ortamlar altındaki çalışma süresiyle ilişkilendirmedi. Bazı cihazlar hala çalışıyor olmasına rağmen, ilk cihaz grubu 1250 saatlik çalışmanın ardından arızalandı. 4800 saatlik testin ardından cihazların %64'ü arızalandı. Ancak zorlu test ortamı göz önüne alındığında bu sonuçlar zaten çok iyi.

Araştırmacılar, çoğu hatanın sürücünün ilk aşamasında, özellikle de güç faktörü düzeltme (PFC) ve elektromanyetik girişim (EMI) bastırma devrelerinde meydana geldiğini bulmuşlardır. Sürücünün her iki kademesinde de MOSFET'lerde arızalar var. Bu AST, sürücü tasarımını geliştirebilecek PFC ve MOSFET gibi alanları belirtmenin yanı sıra, hataların genellikle sürücünün performansının izlenmesine dayalı olarak tahmin edilebileceğini de gösterir. Örneğin, güç faktörünün ve aşırı akımın izlenmesi, erken arızaları önceden tespit edebilir. Yanıp sönme sayısının artması aynı zamanda bir arızanın meydana gelmek üzere olduğunu da gösterir.

Uzun süredir DOE'nin SSL programı, Gateway de dahil olmak üzere SSL alanında önemli test ve araştırmalar yürütmektedir.